1. Boundary Scan eljárás
Mi a Boundary Scan? | JTAG Technologies
A Boundary Scan (JTAG) eljárás a modern NYÁK lapok tesztelését végzi összeállításuk után. A rendszer a mai, integrált áramkörökbe épített szabvány elektronikai megoldást használva ellenőrzi, hogy az eszközök megfelelően lettek-e elhelyezve és forrasztva az áramkörre.
Alkalmazása
A tipikus eszközök, amelyekben alkalmazható ez a technológia, tartalmaznak CPLD-ket, FPGA-kat, mikroprocesszorokat, DSP-ket, ASIC-ket, busz logikát, SERDES-t, telekommunikációs kódolásokat, PHY-ket és hidakat (PCI/PCIe).
Számos gyártó alkalmazza a Boundary Scan technológiát, többek között az Intel, az Analog Devices, az ARM, a Freescale, az NXP, a PLX, az ST, a TI, a Renesas, a Xilinx, az Altera, a Lattice, a Broadcom és az Actel.
A gyakorlatban
A boundary scant támogató eszközök négy (néha öt) dedikált teszt elérési port (TAP) jelet bocsátanak ki:
- TCK (Test Clock)
- TMS (Test Mode Select)
- TDI (Test Data In)
- TDO (Test Data Out)
- TRST (Test Logic Reset) (nem kötelező)
2. Termékek
SZOFTVER
Test application development and execution
Design display and analysis
Production solutions (also see ATE Integration)
- JTAG ProVision Platform
- Production Stand-Alone
- Production Integration Packages
- BSD (Test Diagnostics)
- National Instruments Support
In-system device programming
HARDVER
Boundary-scan controllers
TAP PODs
DIOS and STM modules
- JT 2111/MPV DIOS module
- JT 2122/MPV DIOS module
- JT 2124/F168 DIOS module
- JT 2128 DIOS module
- JT 2127 STM
- JT 2149/MPV
- JT 2702/PCI-Slot DIOS
- JT 2702/DDC DIOS adapter
- JT 2127/Flex STM
Accessories
- JT 2135 TAP Extender
- JT 2139 TAP Isolator
- JT 2149 Connector
- JT 2154 ScanBridge
- JT 2156 Training Board
Other instruments
3. ATE Integráció
Szeretné javítani az Ön által összeállított áramkörök általános tesztlefedettségét?
A JTAG-gel könnyű dolga van. Egyszerűen kösse össze a JTAG Technologies boundary scan eszközöket a meglévő automata tesztberendezéseivel (ATE). Bármelyik in-circuit teszter (ICT), repülő szonda (FPT) vagy funkcionális teszter (FT) gyártóval működőképes.
Az ATE integráció teljesen problémamentes, mivel a JTAG rendszere átalakító szoftvert tartalmaz, amelynek segítségével a specifikus ATE környezetben is gond nélkül használhatjuk. Igény esetén egyedi, személyre szabott verzió fejlesztésére is lehetőség van a boundary scan vezérlők vagy pod-ok esetében. Ez leegyszerűsíti a műszaki integrációt és megőrzi a jelintegritást.
Az integrációszintek az Ön igényei szerint változhatnak, és tartalmazhatják:
- Az alkamazásvégrehajtó és diagnosztikai modulok egyszerű kombinációját, amelyek lehetővé teszik az egyszerű GUI (Graphical User Interface) működését
- Egy teljesen átlapolt megoldást, amely a teszt jeleket a boundary scan által működteti és a natív tesztelő csapja és szondázója segítségével érzékeli
Gyártás közbeni PIP
Az olyan tesztorientált kezelőfelületek mellett, mint a LabView és a TestStand (National Instruments), a JTAG Technologies támogatást nyújt egy sor általános átalakítóhoz Mircosoft és más rendszerekre.
C / C ++ -re a PIP / DLL-t ajánljuk, az olyan .NET keretrendszer struktúrákra, mint például a Visual C , Visual Basic stb.-re a PIP / .NET-et kínáljuk. A régebbi VB fordítóprogramokhoz pedig a PIP / VB-t . Még a DOS / Win parancssorra is megtalálható egy csomag a portfóliónkban, a PIP / EXE . Minden PIP csomag képes alkalmazások tesztelésre való betöltésére és elindítására, valamint áramkör-programozásra az IEEE Std. 1149.1 boundary scan kontrollerek DataBlaster és Explorer családjaiban.